设备技术参数：
型号：Nano Indenter II
生产厂家：美国MTS公司
纳米显微力学探针是研究材料微区力学性能的有力工具。
Nano Indenter II纳米显微力学探针是一种特殊的压入系统，它能连续记录载荷、位移数据，实验载荷可小至微克数量级。除了可以研究第二相粒子，晶界，复合材料等，由于它的高位移精度（垂直方向为0.04nm）特别适合于分析各种薄膜材料和表面改性材料的微区力学性能。
主要功能：
1.定各种薄膜材料包括离子注入材料、化学镀、气相沉积、多层膜、超硬膜、表面改性等材料的硬度和弹性模量；
2.测定多相金属材料、复合材料中某一相的硬度和弹性模量及界面区域的硬度分布；
3.测定材料的蠕变和应变速率敏感系数；
4.测定材料的硬化指数；
5.通过测量压痕的裂纹长度可以得到材料的断裂韧性；
6.通过推出法测定复合材料的界面性能，可以得到界面剪切强度；
7.结合有限元方法可计算材料的屈服强度；
8.结合划痕附件可测量薄膜的结合强度和摩擦系数；
9.在集成电路、微电子及生物材料领域也有应用。纳米显微力学探针的应用领域还在不断扩大。充分利用现有的硬件和软件，不断设计新的附件和应用软件必将开发出更多的新功能。
准动态裂纹区力学性能试验台
为了获得材料裂纹尖端力学性能的实验数据进而研究材料的裂纹扩展情况及应力分布规律，利用Nano Indenter II极高的压入精度和较大的样品室空间，在“入网仪器设备条件建设项目”的支持下自主研制成功了《准动态裂纹区力学性能试验台》。
《准动态裂纹区力学性能试验台》可以对样品进行加载，并在保持载荷、保持裂纹尖端应力状态不变的情况下利用纳米力学探针测量裂纹尖端区域的力学性能。另外，采用符合国标（GB 4161-84）的试样，可以地获得材料的断裂韧性（KIC），适合脆性材料小样品的断裂韧性（KIC）测量。自主开发的控制软件可控制和采集实验数据，并可用其它通用软件进行数据处理。
负责人：林志
地点：主楼
电话：010-62333547
有偿使用：是
